您当前的位置:首页 > 调控元件调控元件CaMV 35S 启动子、FMV 35S启动子、NOS启动子、NOS终止子和CaMV 35S终止子
1、比表面积简介 比表面积是指单位质量物料所具有的总面积。单位是㎡/g.通常指的是固体材料的比表面积,例如粉末,纤维,颗粒,片状,块状等材料. 比表面积还有另一种定义:面积/体积(surface to volume ratio) 2、 比表面积测定方法 ...查看详情>>
1、比表面积简介
比表面积是指单位质量物料所具有的总面积。单位是㎡/g.通常指的是固体材料的比表面积,例如粉末,纤维,颗粒,片状,块状等材料.
比表面积还有另一种定义:面积/体积(surface to volume ratio)
2、比表面积测定方法
比表面积测试方法主要分连续流动法(即动态法)和静态容量法。
收起百科↑ 最近更新:2017年05月26日
检测项:湿热 检测样品:电子信息产品 标准:GB/T 2423.50-2012电工电子产品环境试验 第2 部分 试验方法:试验Cy 恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项:硫(S)的质量分数、 检测样品:工业硫磺 标准:工业硫磺 第1部分:固体产品 GB/T 2449.1-2014 5.2
检测机构:国家轨道交通材料检验中心 更多相关信息>>
检测项:铜 检测样品:食品 标准:原子吸收分光光度法测定婴儿配方食品、肠内制品及宠物食品中矿物质 AOAC985.35-2005
检测机构:腾德商品检测(上海)有限公司 更多相关信息>>
检测项:电磁兼容传导骚扰、辐射骚扰 检测样品:医疗器械 标准:GB17743-2016 电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限制和测量方法
检测机构:杭州远方检测校准技术有限公司 更多相关信息>>
检测项:低气压试验 检测样品:军工及民用(航空、航天、兵器和船舶)电气、电子和机械类产品 标准:《电子及电气元件试验方法 低气压试验》 方法105 GJB360B-2009
检测项:ICP 光谱元素分析 检测样品:油品 标准:ASTM D5708-12 感应耦合等离子体(ICP)原子发射光谱法测定原油和残留燃油中的镍,钒和铁的标准试验方法
检测机构:北京优测科技发展有限公司 更多相关信息>>
检测项:细菌鉴定 检测样品:物种鉴定 标准:细菌16S rDNA的鉴定方法MS(i)/C019-C01(《分子克隆实验指南》第三版 金冬雁 黎孟枫等译 2002 科学出版社)
检测机构:中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>